|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
Калибровочный эталон для профилометров и сканирующих зондовых микроскопов. патент
- Авторы: Мешков Г.Б., Яминский Д., Яминский И.В., Оленин А.В.
- Номер: 2538024
- Дата публикации патента: 10 января 2015 г.
-
Реферат (описание изобретения):
Заявка: 2013130176/28 от 03.07.2013. Положительное решение о выдаче патента на изобретение от 14.08.2014
- Добавил в систему: Мешков Георгий Борисович