Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
X-Ray Backscatter Inspection System
патент
Авторы:
Arodzero Anatoli
,
Kutsaev Sergey V.
,
Ziskin Vitaliy
Номер:
US10481113B2
Дата публикации патента:
19 ноября 2019 г.
Добавил в систему:
Куцаев Сергей Викторович