|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
Радиоизотопный способ исследования дефектной структуры органических материаловпатент
- Авторы: Бекман И.Н., Бунцева И.М., Дзелме Ю.Р.
- Номер: N. 1473519
- Дата публикации патента: 15 декабря 1988 г.
- Добавил в систему: Бекман Игорь Николаевич