|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
Микроэлектроникажурнал
Индексирование:
Журналы РФ в RSCI WoS (1 января 1970 г.-),
Список РИНЦ (1 января 1970 г.-),
Журналы РФ в RSCI WoS (1 июля 2018 г.-),
Scopus (1 января 2002 г.-31 декабря 2007 г.),
Список ВАК (1 января 1970 г.-)
Период активности журнала:
не указан
- Другие названия журнала: Микроэлектроника, Микроэлектроника
- Сайт журнала: http://www.ftian.ru/journals/mikelek/
- Издательство: Общество с ограниченной ответственностью Интеграция: Образование и Наука
- Местоположение издательства: Москва
-
Аннотация:
Журнал Микроэлектроника основан в 1972 г. Он посвящён технологическим, физическим и схемотехническим аспектам микро- и наноэлектроники. Особое внимание уделяется новым тенденциям в литографии (оптической, рентгеновской, электронной, ионной), травлению, легированию, осаждению и планаризации на субмикронном и нанометровом уровнях. Значительное место отводится плазменным технологиям, молекулярно-пучковой эпитаксии и сухому травлению, а также методам исследования и контроля поверхностей и многослойных структур. Обсуждаются вопросы приборно-технологического моделирования и диагностики технологических процессов в реальном времени. Публикуются статьи о полупроводниковых приборах на базе новых физических явлений, таких как квантовые размерные эффекты и сверхпроводимость. Данное направление исследований охватывает гетероструктуры, нанотранзисторы и полупроводниковые приборы, квантовые биты (кубиты). Рассматриваются проблемы анализа и синтеза электронных схем на биполярных и полевых транзисторах, в частности КМОП- и БиКМОП-схем. Журнал предназначен для специалистов научно-исследовательских институтов, высших учебных заведений и производственно-контрольных лабораторий, а также для аспирантов.
- ISSN: 0544-1269 (Print)
Статьи, опубликованные в журнале
-
- 1985 Влияние облучения электронами низких энергий на подвижность дырок в приповерхностных каналах кремниевых МДП-структур
- Козлов С.Н., Щеблыкин Ю.В.
- в журнале Микроэлектроника, издательство Общество с ограниченной ответственностью Интеграция: Образование и Наука (Москва), том 14, № 3, с. 279-281
-
- 1985 Высокочастотные характеристики биполярных гетеротранзисторов в условиях консервативного переноса горячих электронов в базе
- Захарова А.А., Рыжий В.И.
- в журнале Микроэлектроника, издательство Общество с ограниченной ответственностью Интеграция: Образование и Наука (Москва), том 14, № 6, с. 521-524
-
- 1985 Определение параметров сверхпроводников в туннельных экспериментах с NSIN структурами
- Голубов А.А., Куприянов М.Ю.
- в журнале Микроэлектроника, издательство Общество с ограниченной ответственностью Интеграция: Образование и Наука (Москва), том 13, № 5, с. 428-430
-
- 1985 Поверхностная миграционная нестабильность МДП-структур в средах с различной влажностью
- Козлов С.Н., Славова М.Л.
- в журнале Микроэлектроника, издательство Общество с ограниченной ответственностью Интеграция: Образование и Наука (Москва), том 14, № 6, с. 556-560
-
- 1985 Получение и свойства оксидных пленок на поверхности GaP
- Кашкаров П.К., Образцов А.Н., Сорокин И.Н., Сосновских Ю.Н., Сягайло А.И.
- в журнале Микроэлектроника, издательство Общество с ограниченной ответственностью Интеграция: Образование и Наука (Москва), том 14, № 1, с. 27-30
-
- 1985 Фотоинжекционные явления в структурах Ge-GeO2 при лазерном облучении
- Кашкаров П.К., Петров А.В.
- в журнале Микроэлектроника, издательство Общество с ограниченной ответственностью Интеграция: Образование и Наука (Москва), том 14, № 3, с. 277-279
-
- 1984 Генерация и поглощение гиперзвука в тонких пленках селенида цинка
- Баранский К.Н., Магомедов З.А., Пустовойт В.И., Павлов С.В., Север Г.А., Расторгуев Д.Л., Шпилькин А.Д.
- в журнале Микроэлектроника, издательство Общество с ограниченной ответственностью Интеграция: Образование и Наука (Москва), том 11, № 5, с. 418-422
-
- 1983 Влияние эффекта близости в электродах на стационарные свойства SN-N-NS мостиков переменной толщины
- Голубов А.А., Куприянов М.Ю., Лукичев В.Ф.
- в журнале Микроэлектроника, издательство Общество с ограниченной ответственностью Интеграция: Образование и Наука (Москва), том 12, № 4, с. 342-354
-
- 1983 Генерация глубоких ловушек в оксиде кремния низкоэнергетическими электронами
- Козлов С.Н., Чукичев М.В., Щеблыкин Ю.В.
- в журнале Микроэлектроника, издательство Общество с ограниченной ответственностью Интеграция: Образование и Наука (Москва), том 12, № 3, с. 273-275
-
- 1983 Исследование механизмов пробоя в структуре полевых транзисторов на GaAs
- Кернер Б.С., Козлов Н.А., Нечаев А.М., Синкевич В.Ф.
- в журнале Микроэлектроника, издательство Общество с ограниченной ответственностью Интеграция: Образование и Наука (Москва), том 12, № 3, с. 217-225
-
- 1983 Критическая температура SN-сэндвича
- Голубов А.А., Куприянов М.Ю., Лукичев В.Ф., Орликовский А.А.
- в журнале Микроэлектроника, издательство Общество с ограниченной ответственностью Интеграция: Образование и Наука (Москва), том 12, № 4, с. 355-362
-
- 1983 Методы логического проектирования и оценки сложности схем на дополняющих МОП-транзисторах
- Ложкин С.А., Сапоженко А.А.
- в журнале Микроэлектроника, издательство Общество с ограниченной ответственностью Интеграция: Образование и Наука (Москва), том 12, № 1, с. 42-47
-
- 1981 О влиянии окисления в хлорсодержащей среде на подвижность электронов и дырок в инверсионных каналах на кремнии
- Венкстерн С.А., Козлов С.Н.
- в журнале Микроэлектроника, издательство Общество с ограниченной ответственностью Интеграция: Образование и Наука (Москва), том 10, № 3, с. 263-265
-
- 1981 О возможности создания полистабильных активных распределенных систем
- Балкарей Ю.И., Захарова А.А., Елинсон М.И.
- в журнале Микроэлектроника, издательство Общество с ограниченной ответственностью Интеграция: Образование и Наука (Москва), том 10, № 3, с. 260-263
-
- 1979 Миграция ионов по поверхноси структур диэлектрик - полупроводник
- Венкстерн С.А., Козлов С.Н.
- в журнале Микроэлектроника, издательство Общество с ограниченной ответственностью Интеграция: Образование и Наука (Москва), том 8, № 3, с. 239-248
-
- 1978 METHODS OF MICROPOTENTIAL INVESTIGATION WITH THE HELP OF A SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
- Spivak G.V., Rau E.I., Karelin N.N., Nazarov M.V.
- в журнале Микроэлектроника, издательство Общество с ограниченной ответственностью Интеграция: Образование и Наука (Москва), том 7, с. 212
-
- 1978 расчет на ЭВМ распределений плотности тока и температуры в транзисторных структурах
- Кернер Б.С., Нечаев А.М., Рубаха Е.А., Синкевич В.Ф.
- в журнале Микроэлектроника, издательство Общество с ограниченной ответственностью Интеграция: Образование и Наука (Москва), том 7, № 2, с. 147-151
-
- 1977 Акустическая память на поверхностных состояниях в слоистой структуре пьезоэлектрик-полупроводник
- Коршак Б.А., Лямов В.Е., Солодов И.Ю.
- в журнале Микроэлектроника, издательство Общество с ограниченной ответственностью Интеграция: Образование и Наука (Москва), том 6, № 4, с. 331-336
-
- 1977 Влияние подслоя оксида германия на захват носителей заряда в системе германий - пиролитический окисел кремния
- Козлов С.Н., Заботин В.М., Плотников Г.С.
- в журнале Микроэлектроника, издательство Общество с ограниченной ответственностью Интеграция: Образование и Наука (Москва), том 6, № 4, с. 359-364
-
- 1977 Влияние полевых обработок в активных средах на подвижность носителей заряда винверсионном канале
- Венкстерн С.А., Козлов С.Н.
- в журнале Микроэлектроника, издательство Общество с ограниченной ответственностью Интеграция: Образование и Наука (Москва), том 6, № 4, с. 354-358
-
- 1976 Оптическая зарядовая "память" в системе германий - окисел
- Кашкаров П.К., Козлов С.Н.
- в журнале Микроэлектроника, издательство Общество с ограниченной ответственностью Интеграция: Образование и Наука (Москва), том 5, № 6, с. 535-539
-
- 1976 Оптическая зарядовая "память" в системе германий-термическая двуокись германия
- Кашкаров П.К., Козлов С.Н.
- в журнале Микроэлектроника, издательство Общество с ограниченной ответственностью Интеграция: Образование и Наука (Москва), том 5, № 6, с. 535-539
-
- 1974 Дифракция света на страйп-структуре ортоферрита иттрия
- Ахуткина А.И., Четкин М.В.
- в журнале Микроэлектроника, издательство Общество с ограниченной ответственностью Интеграция: Образование и Наука (Москва), том 3, № 4, с. 358-360
-
- 1974 Цилиндрические домены в пластинках перпендикулярных оптической оси
- Четкин М.В., Шалыгин А.Н., Драчев В.А.
- в журнале Микроэлектроника, издательство Общество с ограниченной ответственностью Интеграция: Образование и Наука (Москва), том 3, № 1, с. 71-72
-
- 1973 MEASURING OF POTENTIALS IN INTEGRAL CIRCUITS WITH A SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
- Dyukov V.G., Rau E.I., Spivak G.V.
- в журнале Микроэлектроника, издательство Общество с ограниченной ответственностью Интеграция: Образование и Наука (Москва), том 2, с. 18