Вернуться к списку оборудования

Сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) LEO 1450VP

Входит в состав Комплекс для исследования микростроения образцов горных пород
Краткое название: СИ310_SEMLEO1450
Тип: Микроскопы / Электронные микроскопы / Сканирующие (растровые) электронные микроскопы
Подразделение: Геологический факультет
Начало эксплуатации: 22 марта 2004
Идентификатор: 15264619
Технические характеристики: Сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) LEO 1450VP произведен фирмой Carl Zeiss (Германия). Прибор оснащен энерго-дисперсионным спектрометром (ЭДС) для микроанализа химических элементов INCA Energy 300, производства фирмы OXFORD INSTRUMENTS ANALYTICAL (Великобритания). СЭМ LEO 1450VP имеет гарантийное разрешение 3,5 нм в режиме вторичных электронов на вольфрамовом катоде, а при работе с катодом из гексаборида лантана (LaB6) – 2,5 нм. Ускоряющее напряжение прибора может изменяться от 200 В до 30 кВ. Диапазон изменения увеличений варьирует от 5х до 1000000х. Помимо этого СЭМ имеет твердотельный детектор упруго-отраженных электронов, детектор катодолюминесценции, а также детектор изменяющегося давления (VP), позволяющий изучать образцы в атмосфере газа (пара) в интервале давлений от 1 до 400 Па, но с худшим разрешением. ЭДС INCA Energy 300 позволяет проводить качественный и количественный микроанализ химических элементов от Be до U. Спектральное разрешение 133 эВ, локальность анализа – 1 мкм.
Расписание:

понедельник – пятница
с 10.00 до 17.00
Адрес:

Главное здание МГУ, сектор «П», правая сторона, ЦВ-06

Список ответственных за данное оборудование: Список зарегистрированных ответственных за оборудование комплекса: