![]() |
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
На основе метода спектрометрии ядерного обратного рассеяния протонов (ЯОР) разработаны методики для неразрушающего материал одновременного определения элементного состава, толщины и пористости оксидных покрытий, созданных на поверхности материалов методами микродугового оксидирования, плазменного нанесения и термического оксидирования.