ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
|
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
Работа посвящена внедрению аппарата аналитической электронной спектроскопии (спектроскопии вторичных и отражённых электронов)в сканирующий электронный микроскоп.
№ | Имя | Описание | Имя файла | Размер | Добавлен |
---|---|---|---|---|---|
1. | Отзыв ведущей организации | Otzyiv_veduschej_organizatsii.pdf | 3,5 МБ | 5 июня 2017 | |
2. | Полный текст диссертации | Disser_Kupreenko.pdf | 5,5 МБ | 5 июня 2017 | |
3. | Автореферат | Kupreenko.pdf | 1,3 МБ | 5 июня 2017 | |
4. | Отзыв научного руководителя/консультанта | Otzyiv_rukovoditelya.pdf | 511,5 КБ | 5 июня 2017 | |
5. | Отзыв официального оппонента | Otzyiv_Filippov.pdf | 2,6 МБ | 5 июня 2017 | |
6. | Отзыв официального оппонента | Otzyiv_Yakimov.pdf | 1,7 МБ | 5 июня 2017 | |
7. | Сведения о ведущей организации, включая публикации | svedeniya_o_ved.org.pdf | 143,8 КБ | 5 июня 2017 | |
8. | Сведения об официальных оппонентах, включая публикации | svedeniya_ob_opponente_Yakimov.pdf | 140,7 КБ | 5 июня 2017 | |
9. | Сведения об официальных оппонентах, включая публикации | Cvedeniya_ob_opponente_Filippov.pdf | 149,3 КБ | 5 июня 2017 |