![]() |
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
Положения, выносимые на защиту: 1. Результаты экспериментальных исследований электрических параметров танталовых объемно-пористых конденсаторов, алюминиевых оксидно-электролитических конденсаторов, а также конденсаторов с двойным электрическим слоем при проведении испытаний на длительную безотказность доказали, что наиболее важным, обеспечивающего выявление бракованных изделий на ранней стадии, является контроль эквивалентного последовательного сопротивления. 2. Результаты проведенных исследований параметра эквивалентного последовательного сопротивления для алюминиевых оксидно-электролитических конденсаторов, танталовых объемно-пористых конденсаторов и конденсаторов с двойным электрическим слоем, а также результаты прогнозирования момента выхода конденсаторов с границы поля рассеивания за границы поля допуска, с использованием разработанного устройства обеспечили снижение отказов и повышение качества конденсаторов. 3. Разработанная методика СТРЕСС-ТЕСТ оценки качества оксидно-электролитических танталовых конденсаторов, основанная на циклическом приложении к конденсатору повышенного напряжения с коэффициентом 1,8 от номинального напряжения (соответствующего напряжению при формировании оксидного слоя на танталовом аноде) и установка для его проведения позволили заблаговременно выявлять некачественные конденсаторы при дефектах в структуре оксидного слоя и сократить время испытаний с 2,7 года до 1 часа.