ИСТИНА

Целью работы является разработка метода вычисления и проведение расчетов электронной плотности на исследуемом ядре в различных молекулярных системах и наноструктурах для вычисления влияния среды на время распада ядер, распадающихся через электронный захват. Разработан метод вычисления электронных свойств молекулярных и наносистем, позволяющий проводить расчеты точными квантовыми методами из первых принципов – методом Хартри-Фока с использованием метода RI (разложения единицы) с учетом электронных корреляций со скоростью, значительно превышающей стандартные методы. Метод применен для расчета электронных свойств и времени распада ядра 7Be в наносистемах Be@C60, Be@C70, Be@C36, Be-C36 (атом бериллия находится внутри или вне фуллерена), в кластерах кристаллов металла Be и оксида BeO размером до сотни атомов. Исследована зависимость электронной плотности на ядре бериллия от размера кластера и ее сходимость с увеличением размера кластера. Для двух модификаций BeO (структуры вюрцита и структуры каменной соли) и гидроксида бериллия исследована зависимость электронной плотности на ядре бериллия от внешнего давления.