Аннотация:Определение электродинамических характеристик сверхпроводящих пленок, используемых в разработках проводников третьего поколения является важным аспектом исследований . К таким характеристикам относят температуру перехода в критическое состояние , величину критического поля и плотность критического тока. В данной работе проведена сравнительная характеристика данных методов, а также выполнена оценка расхождения величин оценок плотности критического тока, полученных при использовании различных моделей.