|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
Особенности структуры опаловых фотонных кристалловдипломная работа (Магистр)
- Научные руководители: Синицкий А.С., Климонский С.О.
- Автор: Абрамова Вера Владимировна
- Тип: Магистр
- Организация, в которой проходила защита: МГУ имени М.В. Ломоносова
- Год защиты: 2010
- Аннотация: · Синтезированы высококачественные пленочные опалы и инвертированные опалы на основе ZnO, SiO2, TiO2, Fe2O3, WO3, MnOx, BiFeO3. Исследованы основные закономерности изменения структуры при инвертировании: показано наследование инвертированными опалами доменной структуры полистирольной матрицы и отсутствие значительных изменений толщины образца в результате инвертирования. Установлено, что основными параметрами, определяющими структуру инвертированного опала являются качество исходного темплата и линейное сжатие в процессе инвертирования. Предложены подходы к синтезу высококачественных опалов и инвертированных опалов с характерным размером домена более 100 мкм. Высокое структурное совершенство образцов подтверждено спектроскопическими измерениями. · Разработана методика анализа чередования слоев в структуре пленочных опалов и инвертированных опалов с помощью малоугловой рентгеновской и лазерной дифракции, основанная на измерении и анализе распределения интенсивности рассеяния вдоль брэгговских стержней типа (10). Было показано, что пленочные образцы, как правило, имеют структуру близкую к ГЦК с характерными значениями параметра α ~ 0.70-0.90. На распределениях интенсивности можно отметить рефлексы, близкие к рефлексам ГЦК с чередованием слоев как ABC, так и ACB. С помощью малоугловой рентгеновской дифракции показано, что участки с чередованием слоев типа ABC и ACB разнесены в плоскости образца, и характерный размер таких участков составляет 0.5-1.5 мм. · С помощью малоугловой рентгеновской дифракции выявлен и охарактеризован новый тип дефектов в пленочных опалах – парные наклонные дефекты упаковки. Данные дефекты проявляются на дифракционных картинах, полученных в направлении (110), в виде линий – брэгговских стержней, соединяющих ГЦК рефлексы, а на микрофотографиях – в виде характерных ступенек с локальной квадратной симметрией. · Предложена методика характеризации доменной структуры инвертированных опалов, основанная на лазерной дифракции. Методика позволяет быстро находить участки с одинаковой ориентацией доменов в структуре путем сканирования образца лазерным пучком и анализа наблюдаемых дифракционных картин. · Предложен подход к синтезу пленочных бинарных коллоидных кристаллов с заданной симметрией параллельного подложке слоя методом вертикального соосаждения микросфер двух типов. Показано, что при фиксированном соотношении размеров частиц (1000нм/220 нм) и их концентраций (1/3) наблюдается зависимость доли образца с квадратной симметрией упаковки частиц от суммарной концентрации ростового раствора. Наибольшая доля квадратной симметрии (около 65% поверхности) была получена при наименьшей ростовой концентрации, тогда как при постепенном повышении концентрации доля квадратной симметрии значительно падает - до 5-10%. При вертикальном осаждении только крупных микросфер наблюдается гексагональная симметрия слоя. С помощью метода малоугловой рентгеновской дифракции показано, что структура с квадратной симметрией параллельного подложке слоя – ГЦК, а с гексагональной симметрией параллельного подложке слоя – СГПУ.
- Добавил в систему: Климонский Сергей Олегович