Описание:В курсе излагаются основные понятия метрологии, показаны ее научное содержание и практическое значение. Представлены принципы метрологического обеспечения. Подробно рассмотрены физические аспекты построения научных основ метрологии. Дан анализ новых и существующих требований к точности методов и результатов измерений, приведена процедура вычисления неопределенности измерений. Описаны метрологические принципы и подходы в области нанотехнологий.