Описание:Рассматриваются возможные схемы дифракционного эксперимента для определения структурных состояний моно- и поликристаллов. Изучаются характеристики источников излучения, монохроматоров, коллиматоров, детекторов. Обсуждаются основные закономерности, связывающие структурные параметры исследуемого объекта (размер кристаллитов, наличие текстуры, микронапряжений), условия эксперимента и параметры дифракционной картины. Рассматриваются основы электронной дифракции: особенности получения, анализа и расшифровки электронограмм.