Описание:В рамках дисциплины «Рентгеновская спектроскопия и микроскопия» изучаются физические процессы и явления, связанные с получением и детектированием рентгеновского излучения, особенности взаимодействия рентгеновского излучения с веществом и рассматривается применение рентгеновского излучения, излучения дальней ультрафиолетовой части спектра и вторичных продуктов взаимодействия электромагнитного излучения указанных диапазонов для проведения микроскопических и спектроскопических исследований. Проводится классификация методов наномасштабных исследований. Обсуждаются трудности и особенности применения метода рентгеновской микроскопии и фокусировки рентгеновского излучения. Рассматривается области применимости и особенности использования таких спектрометрических методов, как XANES, EXAFS, XMCD и спектроскопии линейного поглощения. Рассматриваются вопросы, связанные с применением схемы накачка-зонд с использованием рентгеновского излучения, а также применения и детектирования вторичных продуктов взаимодействия рентгеновского и дальнего ультрафиолетового излучения с веществом. Дается представление об основных методах обработки рентгеновских изображений для получения сверхразрешения (птихография, ghost imaging). Даны примеры применений методов рентгеновской спектроскопии и микроскопии для решения современных задач в области расшифровки, идентификации и визуализации структуры исследуемых веществ и определения их элементного и фазового состава..