|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
Рентгенооптические методы исследования многослойных наноструктуручебный курс
- Автор: Андреева Марина Алексеевна
- Год создания: 2012
- Организация: МГУ имени М.В. Ломоносова
- Описание: Многослойные наноструктуры играют важную роль в современной физике и нанотехнологии. Рентгеновская рефлектометрия является обязательным методом их аттестации, а в сочетании с измерениями вторичных излучений (фотоэлектронов, флуоресценции), спектров отражения вблизи краев поглощения, некомпланарной дифракции, карт диффузного рассеяния метод позволяет проводить детальный анализ структуры и свойств многослойных пленок. В лекционном курсе содержится обзор основных эффектов, наблюдаемых для рентгеновского излучения в геометрии отражения, и приводятся примеры их использовании для исследования пленок и многослойных структур. Курс дает базовые знания по теории рентгеновской рефлектометрии. В рамках курса студенты получают начальные навыки обработки рефлектометрических кривых.
- Добавил в систему: Андреева Марина Алексеевна
Преподавание курса
- 1 сентября 2023 - 31 декабря 2023 Андреева Марина Алексеевна
- МГУ имени М.В. Ломоносова, Физический факультет
- факультативная, лекции, 36 часов
- Автор: Андреева Марина Алексеевна
- 1 января 2021 - 31 мая 2021 Андреева Марина Алексеевна
- МГУ имени М.В. Ломоносова, Физический факультет, Отделение физики твердого тела
- обязательная, по выбору (спецкурс), лекции, 32 часов
- Автор: Андреева Марина Алексеевна