Описание:Методы диагностики на основе атомно-силовой микроскопии; методы диагностики в атомно-силовой микроскопии; методы литографии и манипуляции в атомно-силовой микроскопии; физические основы и методы диагностики в сканирующей туннельной микроскопии; физические эффекты в туннельно-зондовой нанотехнологии; методики определения физико-механических свойств микро- и наноструктур, приповерхностных слоев материалов, тонких пленок