|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
Experimental and theoretical study of the dislocation contrast in silicon by using laboratory X-ray sourcesдоклад на конференции
- Авторы: Denis Zolotov, Victor Asadchikov, Ilya Besedin, Alexey Voloshin, Felix Chukhovskii, Yuri Iunin, Alexey Buzmakov
- Международная Конференция : 12th Biennial Conference on High-Resolution X-Ray Diffraction and Imaging XTOP-2014
- Даты проведения конференции: 2014
- Тип доклада: не указан
- Докладчик: не указан
- Место проведения: Villard-de-Lans, France, France
- Добавил в систему: Асадчиков Виктор Евгеньевич