|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
Диагностика структуры и химического состава перспективных наносистем для задач оборонного комплекса методами электронно-ионной сканирующей микроскопиидоклад на конференции
- Авторы: Тагаченков А.М., Кривенков М.А., Васильева Н.В., Киселева Т.Ю., Новакова А.А., Зенова Е.В., Ануфриев Ю.А., Дудин А.А., Еганова Е.М., Дубровинский В.Ю., Герус П.А., Хенкин Л.В., Балуян Т.А., Жолудев С.И., Хахалин А.В.
- Локальная Конференция : Выставка "Технологии специального назначения"
- Даты проведения конференции: 2012
- Тип доклада: не указан
- Докладчик: не указан
- Место проведения: Москва, Russia
- Добавил в систему: Хахалин Андрей Владимирович