|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
Исследование топографии кремниевых и кремний/германиевых наноструктур методами комбинированной сканирующей туннельной и атомно-силовой микроскопиидоклад на конференции
- Авторы: Путилов А.В., Музыченко Д.А., Аладышкин А.Ю., Шалев М.В.
- Международная Конференция (Симпозиум) : XVIII Международный симпозиум «Нанофизика и наноэлектроника»
- Даты проведения конференции: 10-14 марта 2014
- Тип доклада: не указан
- Докладчик: не указан
- Место проведения: Нижний Новгород
-
Аннотация доклада:
В докладе представлен анализ возможностей сканирующей туннельной микроскопии (STM) и бесконтактной атомно-силовой микроскопии (NC-AFM) для исследования электрофизических свойств твердотельных наноструктур на основе кремния. В частности, получено атомарное разрешение для поверхности Si(111)7x7 методом комбинированной STM-NC-AFM микроскопии и модуляционной STM микроскопии, что позволяет исследовать топографию неоднородных об-разцов с различной локальной проводимостью и выполнять туннельную спектроскопию с высоким пространственным и энергетическим разрешением.
- Добавил в систему: Музыченко Дмитрий Анатольевич