Количественный анализ структур от макро- до наноуровня - доклад на конференции | ИСТИНА – Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных

Авторы: Соколов В.Н., Чернов М.С., Кузнецов Р.А., Денисова Л.Г., Юрковец Д.И., Разгулина О.В.
Международная Конференция : 2-й Международный форум по электронно-лучевым технологиям для микроэлектроники
Даты проведения конференции: 9-12 октября 2017
Дата доклада: 10 октября 2017
Тип доклада: Стендовый
Докладчик: Чернов М.С.
Место проведения: Зеленоград, Russia

	ИСТИНА	Войти в систему Регистрация
	Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных
	Главная Поиск Статистика О проекте Помощь

ИСТИНА