ИСТИНА

Необходимые функциональные свойства сложных наноразмерных материалов зависят от строго определенной локализации атомов в структуре. Поэтому информация о локальном атомном строении материалов важна. Одним из методов исследования локальной атомной структуры является EXAFS (Extended X-ray Absorption Fine Structure) спектроскопия. На исследуемое вещество воздействуют рентгеновским излучением, возбуждая при этом внутренний уровень атома, и регистрируют спектральную зависимость поглощения. EXAFS область содержит информацию о параметрах локальной атомной структуры: межатомные расстояния, координационные числа, параметры тепловой дисперсии атомов. Классическим методом анализа EXAFS-спектров является метод Фурье-преобразования. Однако при исследовании сложных систем, в составе которых содержатся химические элементы с близкими значениями атомного номера, возникают трудности. На EXAFS-спектрах таких материалов будет наблюдаться область перекрытия нескольких краев поглощения. В данном случае спектр будет содержать сумму нескольких волновых чисел. Применение в данном случае метода Фурье-преобразования невозможно. Целью настоящей работы является разработать метод, позволяющий проводить анализ перекрывающихся EXAFS сигналов. В данной работе рассматривается решение проблемы на примере систем Au-Pt. Для этих объектов наблюдается перекрытие более 70% от всего диапазона экспериментальных данных.