ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
|
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
Методом Кельвин-зонд-микроскопии определена зависимость контактной разности потенциалов Pd и Ni наноструктур на пиролитическом графите от степени заполнения поворхности