ИСТИНА

Самые ранние сведения о включениях в алмазах (XVII – нач. XX вв.) были основаны главным образом на визуальном исследовании включений и интуитивном определении. В следующие несколько десятилетий были проведены специальные работы по изучению включений в кристаллах алмаза с применением рентгеновского анализа, исследованием в иммерсионных препаратах минералов, извлеченных из алмазов, с проведением их микрохимического и спектрального анализов. Препараты, подготовленные таким образом, можно изучать так же, как любые другие минералы. Среди обширного набора методов изучения включений в алмазах - методы аналитической электронной микроскопии, микрорентгеноспектральный анализа (EMPA), люминесцентной спектроскопии, LA-ICP-MS (лазерная абляция), масс-спектрометрии вторичных ионов (SIMS), дифракция обратнорассеянных электронов (EBSD).Поскольку алмаз прозрачен в широком спектральном диапазоне от УФ до дальнего ИК спектра, устойчив при высоких температурах и давлениях, в сильных радиационных полях, для его исследований стали широко применять мощные неразрушающие методы, такие как фотолюминесцентная томография, фотолюминесценция, спектроскопия поглощения в видимой, ультрафиолетовой, инфракрасной областях, и другие. Эти методы исследований позволяют устанавливать и идентифицировать примесные и собственные дефекты их кристаллической структуры, установить минеральную фазу включений, оценить температурно-временные характеристики их образования, с сохранением минерала-хозяина. Возможность изучения включений in situ с помощью КР-спектроскопии открывает нам доступ к барометрии и возможность изучения остаточного давления во включениях в кристаллах алмаза. В ИЭМ РАН существует комплекс для изучения вещества методом КР-спектроскопии. Он состоит из спектрографа Acton SpectraPro-2500i с охлаждаемым до -70 °C детектором CCD Pixis2K и микроскопа Olympus. Для возбуждения спектра µm используется непрерывный твердотельный одномодовый лазер с длиной волны излучения 532 нм и диодной накачкой. Также в ИЭМ имеется решеточный спектрометр комбинационного рассеяния RENISHAW RM1000, оснащенный твердотельным лазером с диодной накачкой с длиной волны излучения 532 нм и мощностью 20 мВт. Спектральный диапазон до 5000 см-1. КР-спектрометр совмещен с микроскопом LIECA с объективами с ×10, ×20 и ×50 увеличением. Таким образом, изучение включений в алмазах – важнейший источник информации о мантийной среде их образования. А развитие методик их исследования способствует повышению качества этой информации.