ИСТИНА

В работе обсуждаются новые методы формирования и обработки оптических микроскопических изображений. Предложен новый метод синтеза изображения на основе фазы световой волны, зарегистрированной при измерении. Проведено численное моделирование и сравнительный анализ различных методов. Показаны преимущества нового метода по сравнению с предложенными ранее. A way to synthesize three_dimensional phase_diffraction images of nanoobjects is proposed based on the numerical method of backward propagation of a field from the best focusing plane. The obtained phase images are used for solving the applied problem of object defect finding by methods of pattern recognition. The probability of defect detection by phase images is shown to be higher than for amplitude images. Т.4. с.134-136.