ИСТИНА

В работе методом рентгеновской дифракции исследованы структурные особенности и влияние частичной релаксации механических напряжений в тонкой пленке SrIrO3, выращенной методом катодного распыления на подложке NdGaO3. Из анализа дифракционных данных установлено, что в пленке наблюдается градиент параметра решетки и значительная деформация решетки (δс/с ≈ 2.3∙10^(-3)) по сравнению с массивным кристаллом SrIrO3. Это свидетельствует о возникновении напряжений, обусловленных несоответствием параметров решетки пленки и подложки, что приводит к неоднородной релаксации напряжений в пленке.