|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
Local DOS investigations by low-temperature STM in SF-bilayersдоклад на конференции
- Автор: Stolyarov V.S.
- Конференция : German- Russian Workshop “Future Trends in Nanoelectronics”
- Даты проведения конференции: 2011
- Тип доклада: не указан
- Докладчик: Stolyarov V.S.
- Место проведения: Germany, Julich, June, 14-16, Германия
- Добавил в систему: Столяров Василий Сергеевич