|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
Scanning probe microscopy for carbon materials for nanosensor and nanoelectronic applicationsдоклад на конференции
- Авторы: Горелкин П.В., Яминский И.В., Мешков Г.Б., Синицына О.В.
- Международная Конференция : Exhibition-conference "Constructional materials and functional coverings"
- Даты проведения конференции: 2012
- Тип доклада: не указан
- Докладчик: Горелкин П.В.
- Место проведения: Братислава, Словакия, Slovakia
- Добавил в систему: Мешков Георгий Борисович