ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
|
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
Методы растровой электронной микроскопии (РЭМ), атомно-силовой микроскопии (АСМ) и магнитно-силовой микроскопии (МСМ) совместно с измерениями магнитных характеристик до и после воздействия импульсами слабого магнитного поля (10…100 кА/м) низкой частоты (10…20 Гц) использованы для изучения особенностей состояния поверхности, определяющих доменную структуру, магнитные свойства и магнитные потери при перемагничивании ленточных аморфных сплавов Fe(Ni, Cu)(SiB).
№ | Имя | Описание | Имя файла | Размер | Добавлен |
---|---|---|---|---|---|
1. | Полный текст | 3_41_Kaminskaya-T.P.-i-dr..pdf | 232,4 КБ | 1 июня 2023 [KaminskayaTP] |