Exchange bias in thin film NiFe/IrMn structures with different order of layer deposition - доклад на конференции | ИСТИНА – Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных

	ИСТИНА	Войти в систему Регистрация
	Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных
	Главная Поиск Статистика О проекте Помощь

В связи с техническими работами в центре обработки данных, возможность загрузки и скачивания файлов временно недоступна.

скрыть

Exchange bias in thin film NiFe/IrMn structures with different order of layer depositionдоклад на конференции

Авторы: Dzhun I.O., Chechenin N.G., Shanova E.I.
Конференция (Симпозиум) : 5 Euro-Asian Symposium "Trends in MAGnetism": Nanomagnetism
Даты проведения конференции: 2013
Тип доклада: не указан
Докладчик: не указан
Место проведения: Vladivostok, Russia, Россия
Добавил в систему: Чеченин Николай Гаврилович