|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
FMR line width and exchange bias in F/AF structures as correlated with AF-film thickness and surface roughnessдоклад на конференции
- Авторы: Shanova E.I., Chechenin N.G., Dzhun I.O.
- Конференция : Joint European Magnetic Symposia (JEMS 2013)
- Даты проведения конференции: 2013
- Тип доклада: не указан
- Докладчик: не указан
- Место проведения: Rhodes, Greece, Greece
- Добавил в систему: Чеченин Николай Гаврилович