|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
Взаимосвязь изменения тока утечки танталовых конденсаторов с дефектностью их диэлектрикадоклад на конференции
- Авторы: Барышев О.Б., Степанов А.В., Рыбин С.В., Старостин С.П., Волков В.А., Гончаров О.Ю.
- Международная Конференция : Всероссийская школа-конференция с международным участием "КоМУ-2022"
- Даты проведения конференции: 5-9 декабря 2022
- Дата доклада: 6 декабря 2022
- Тип доклада: Устный
- Докладчик: не указан
- Место проведения: г.Ижевск, Russia
- Добавил в систему: Гончаров Олег Юрьевич