ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
|
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
Представлены результаты исследования структурных и магнитных характеристик толстых микропроводов, полученных с помощью модернизированного метода Улитовского-Тейлора.