ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
|
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
В работе методами оптической микроскопии и сканирующей электронной микроскопии выполнены исследования поверхности мембранных палладиевых фильтров толщиной 50 мкм. Показаны существенные различия в морфологии в зависимости от элемента легирования палладия.