ИСТИНА

В данной работе мы выполнили изучение структуры ультратонкого слоя дихлорметана на трех твердых подложках построенных на основе: графита, золота и оксида кремния с гидроксилированной поверхностью (далее [SiO2]n). Для этого мы выполнили расчеты профилей плотности жидкой пленки в зависимости от расстояния от подложки - (z). Нашей главной целью было рассмотреть возможность использования двух принципиально разных методик моделирования МД и МФП как взаимодополняющих подходов при изучении наноразмерных систем. МД используется как метод позволяющий получать информацию о структурных свойствах молекулярных систем в объемной фазе и на границе раздела фаз. Эта информация позволяет восстановить параметры потенциалов, описывающих взаимодействие «жидкость–подложка» (далее – потенциал подложки) и, на основе этого, рассчитать распределение плотности УТП в рамках МФП, который в нашем случае выступает в качестве мезоскопического метода моделирования.