|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
Structure of thin organic films studied with AFM & Х-ray scattering techniquesдоклад на конференции
- Авторы: Matveenko V.N., Levchenko V.A.
- Международная Конференция : International Conference on Solid Films and Surfaces
- Даты проведения конференции: 2002
- Тип доклада: Устный
- Докладчик: Levchenko V.A.
- Место проведения: Saint Charles, Marseille-France, France
- Добавил в систему: Левченко Владимир Анатольевич