|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
Characterization of nitrogen-containing titanium dioxide thin films by X-ray diffraction and IR spectroscopy techniquesдоклад на конференции
- Авторы: Pustovalova A.A., Ivanova N.M.
- Международная Конференция : XII Международная конференция студентов, аспирантов и молодых ученых «Перспективы развития фундаментальных наук»
- Даты проведения конференции: 21-24 апреля 2015
- Дата доклада: 22 апреля 2015
- Тип доклада: Устный
- Докладчик: не указан
- Место проведения: Томск, Россия
-
Аннотация доклада:
В работе приводятся результаты исследования структуры и химического состава азотсодержащих тонких пленок диоксида титана, осажденных методом реактивного магнетронного распыления. Приведены результаты анализа изменения структуры и фазового состава тонких пленок диоксида титана при увеличении содержания азота в газовой смеси методом рентгеновской дифракции. Химические связи, присутствующие в пленках, исследовались методом ИК-спектроскопии.
- Добавил в систему: Пустовалова Алла Александровна