|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
Diagnostics of Synchrotron and XFEL intense focused beams with use of LiF crystal imaging techniqueдоклад на конференции
- Авторы: Albertazzi B., Pikuz S.A., Yabashi M., Tono K., Sato Yu, Yumoto H., Makarov S.S., Ryazantsev S.N., Faenov A.Ya, Pikuz T.A., Grum-Grzhimailo A.N., Rose M., Senkbeil T., von Gundlach Andreas, Stuhr S., Rumancev Ch, Dzhigaev D., Skopintsev P., Lazarev S., Zaluzhnyy I., Viefhaus J., Rosenhahn A., Vartaniants I., Matsuoka T., Matsuyama S., Yamauchi K., Ozaki N., Ohashi H., Nishikino M., Kawachi T., Ishikawa T., Kodama R., Inubushi Yu
- Международная Конференция : European XFEL Users' Meeting 2017 and DESY Photon Science Users' Meeting 2017
- Даты проведения конференции: 25-27 января 2017
- Дата доклада: 25 января 2017
- Тип доклада: Устный
- Докладчик: Makarov S.S.
- Место проведения: DESY Hamburg and European XFEL, Schenefeld, Germany, Germany
- Добавил в систему: Макаров Сергей Станиславович