|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
On possibility of the measurements of the dielectric properties of thin ferroelectric films by means of the thermal noise methodдоклад на конференции
- Авторы: Шнайдштейн И.В., Бедняков П.С.
- Конференция (Симпозиум) : 10th Russia/CIS/Baltic/Japan Symposium on Ferroelectricity
- Даты проведения конференции: 2010
- Тип доклада: не указан
- Докладчик: не указан
- Место проведения: Yokohama (Japan), Япония
- Добавил в систему: Шнайдштейн Илья Владимирович