|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
Analysis of digital elevation models of silicon wafers and wafer-based structuresдоклад на конференции
- Авторы: Dedkova A., Florinsky I., Djuzhev N.
- Международная Конференция : ICMNE-2021
- Даты проведения конференции: 4-8 октября 2021
- Дата доклада: 7 октября 2021
- Тип доклада: Устный
- Докладчик: Dedkova A.
- Место проведения: г. Звенигород, РФ, Russia
- Добавил в систему: Флоринский Игорь Васильевич