|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
On the problem of surface relief development during gas cluster ion beam depth profilingдоклад на конференции
- Авторы: Ieshkin A.E., Kireev D.S., Ryabtsev M.O.
- Международная Конференция : 25th International Conference on Ion Beam Analysis & 17th International Conference on Particle Induce X-ray Emission & International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (IBA/PIXE & SIMS - 2021)
- Даты проведения конференции: 11-15 октября 2021
- Дата доклада: 11 октября 2021
- Тип доклада: Стендовый
- Докладчик: Ieshkin A.E.
- Место проведения: Japan
- Добавил в систему: Иешкин Алексей Евгеньевич