|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
An advanced Monte Carlo model of electron scattering in EBL involving fast secondary and true secondary electronsдоклад на конференции
- Авторы: Babin S., Shiriaev A., Грачев Е.А., Борисов С.С.
- Конференция : EIL-14P. Micro-and-Nano Engineering 2000
- Даты проведения конференции: 2000
- Тип доклада: не указан
- Докладчик: не указан
- Место проведения: Jena, Germany, Germany
- Добавил в систему: Грачев Евгений Александрович