|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
Вейвлет-анализ в рентгеновской рефлектометрии для определения порядка расположения слоев в пленкахдоклад на конференции
- Авторы: Астафьев С.Б., Янусова Л.Г., Щедрин Б.М.
- Всероссийская с международным участием Конференция (Конгресс) : Первый Российский кристаллографический конгресс
- Даты проведения конференции: 21-26 ноября 2016
- Дата доклада: 22 ноября 2016
- Тип доклада: Стендовый
- Докладчик: Щедрин Б.М.
- Место проведения: Москва, Russia
- Доклад на конференции выполнен в рамках проекта (проектов):
- Добавил в систему: Щедрин Борис Михайлович