ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
|
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
Предложен и обоснован метод определения структурных особенностей апериодических дифракционных решеток на основе анализа формы локальных паттернов в их скейлинговых характеристиках; выполнена оценка устойчивости паттернов к изменению условий освещения решеток и присутствующим в них дефектам.