|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
Applying mean-field theory in scattering from microroughness of filmed wafersдоклад на конференции
- Автор: Лопушенко В.В.
- Международная Конференция : 5th International Conference on Light Scattering by Nonspherical Particles
- Даты проведения конференции: 2000
- Тип доклада: Устный
- Докладчик: Лопушенко В.В.
- Место проведения: Halifax, Canada, Canada
- Добавил в систему: Лопушенко Владимир Васильевич