ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
|
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
На основе одномерного фотонного кристалла избыточной толщины, период которого медленно меняется с глубиной, показана возможность реализации спектрометра компактного (менее 5 мм) разме-ра, покрывающий диапазон 200-1100 нм, имеющий малые потери интенсивности и не требующий филь-трации дифракционных порядков.