|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
Double electron capturing by Ti and Ge impurity centers in quartzдоклад на конференции
- Авторы: Vyatkin S.V., Koshchug D.G.
- Международная Конференция : 18th International Conference on Solid State Dosimetry - SSD 18 (Munchen, Germany, 3 july – 8 july 2016)
- Даты проведения конференции: 3-8 июля 2016
- Дата доклада: 5 июля 2016
- Тип доклада: Стендовый
- Докладчик: не указан
- Место проведения: Мюнхен, Germany
- Доклад на конференции выполнен в рамках проекта (проектов):
- Добавил в систему: Вяткин Сергей Васильевич