|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
Finite size effect in cluster ion emission of Si nanoscale samples: TOF-SIMS studyдоклад на конференции
- Авторы: Tolstoguzov A.B., Drozdov M.N., Ieshkin A.E., Belykh S.F., Pelenovich V.O., Zuo W.B., Fu D.J.
- Международная Конференция : Online Conference on Charged-Particle Sources & Beams (CPSB)
- Даты проведения конференции: 22 октября 2020
- Дата доклада: 22 октября 2020
- Тип доклада: Устный
- Докладчик: Tolstoguzov A.B.
- Место проведения: China
- Добавил в систему: Иешкин Алексей Евгеньевич