ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
|
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
Считается, что атомно-силовая микроскопия (АСМ) позволяет исследовать поверхность образца, но не его внутреннюю структуру, поскольку игла кантилевера не проникает в объем исследуемого объекта. В данной работе описан метод, позволяющий визуализировать внутреннюю структуру клеток и тканей с помощью АСМ, и получать изображения субклеточных структур, которые обычно получаются методами просвечивающей электронной (ПЭМ) и оптической микроскопии.