Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Resonant diffraction of X-rays as a probe for structural, electronic, and phononic properties Р.167
доклад на конференции
Авторы:
Дмитриенко В.Е.
,
Овчинникова Е.Н.
,
Колчинская А.М.
,
Мухамеджанов Э.Х.
,
Kokubun J.
,
Ishida K.
,
Орешко А.П.
Международная Конференция :
International conference on Electron Microscopy and Multiscale Modelling
Даты проведения конференции:
2007
Тип доклада:
Устный
Докладчик:
Дмитриенко В.Е.
не указан
Дмитриенко В.Е.
Овчинникова Е.Н.
Колчинская А.М.
Мухамеджанов Э.Х.
Kokubun J.
Ishida K.
Орешко А.П.
Место проведения:
Москва, ИК РАН, Russia
Добавил в систему:
Овчинникова Елена Николаевна