|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
Models of the correlated interfacial roughness in multilayers and diffuse X-ray scattering. доклад на конференции
- Авторы: Бушуев В.А., Козак В.В.
- Конференция (Симпозиум) : Proc. 3rd European Symposium “X-Ray Topography and High Resolution Diffraction”, Palermo, Italy, 22-24 April 1996. P. 197.
- Даты проведения конференции: 1996
- Тип доклада: не указан
- Докладчик: не указан
- Место проведения: Palermo, Italy, Italy
- Добавил в систему: Бушуев Владимир Алексеевич